アブストラクト（30巻3号：神奈川歯学）

神奈川歯学

Japanese

Title　： 表面電極を用いたτ-S分析法による顎口腔機能検査法の検討
Subtitle　： 神奈川歯科大学大学院歯学研究科博士論文内容および審査の要旨
Authors　： 服部慎太郎
Authors（kana）　： はっとりしんたろう
Organization　： 神奈川歯科大学大学院歯学研究科口腔生理学講座
Journal　： 神奈川歯学
Volume　： 30
Number　： 3
Page　： 321-322
Year/Month　： 1995 / 12
Article　： 報告
Publisher　： 神奈川歯科大学学会
Abstract　： 「論文内容要旨」 顎口腔機能異常の成因ならびにその発症機序は複雑多岐にわたっており, いまだ解明されていない点が多いが, この疾患の成因の一つに早期接触や顎間関係の異常などの咬合異常があると考えられている. しかし, 咬合異常に起因すると思われる顎口腔機能異常であっても, 必ずしも咬合治療により良好な結果を得ることができない症例が存在する. これは各症例における咬合異常の診断あるいはその咬合関係の是正が困難であるためである. したがって, いずれの症例においても咬合異常を容易に診断し得る咬合診断法の開発が望まれる. 顎口腔機能運動の正常と異常を理解するには, 筋-神経系の機能状態を知ることが必要不可欠であり, 筋電図は筋の活動状態を知ることができる手法の一つであるから, これを用いて顎機能の診査・診断を行おうとする試みが種々なされている. 筋全体が収縮するときには多くの運動単位が協同してはたらくが, 全てが常に活動しているわけではなく休止している運動単位も多い.
Practice　： 歯科学
Keywords　：