アブストラクト（16巻3号：神奈川歯学）

神奈川歯学

Japanese

Title　： 電位差法による歯科用アマルガムの疲労試験について
Subtitle　： 神奈川歯科大学大学院歯学研究科博士論文 内容および審査の要旨
Authors　： 宮国敏
Authors（kana）　： みやくにさとし
Organization　：
Journal　： 神奈川歯学
Volume　： 16
Number　： 3
Page　： 453-454
Year/Month　： 1981 / 12
Article　： 報告
Publisher　： 神奈川歯科大学学会
Abstract　： 「論文内容の要旨」 アマルガム修復物の辺縁破折は日常の臨床で高頻度に見られ, 本修復法の最大の欠点とされている. かような辺縁破折のメカニズムについては種々の要因が複雑に関与しているが, 咬合によるくり返し外力によって辺縁部が疲労し, 最終的にはきわめてわずかな外力により疲労破壊が起こると考えられるので, このような小さな外力により生ずる修復物内部のき裂発生, 進展の様相を知ることは, 辺縁破折の現象を論ずるためにきわめて意義あることと思われる. 従来, アマルガム修復物の内部き裂の発生, 進展は主して光学顕微鏡による金属組織像の観察, あるいは破断面のSEMによる観察により行なわれてきた. しかしながら, これらの方法ではき裂の発生時期やその進展の速度, 方向などを同一試料について経時的にとらえることは不可能であった.
Practice　： 歯科学
Keywords　：